Микроскоп позволяет проводить исследования:

·       топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;

·       распределения латеральных сил (например, силы трения);

·       намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);

·       распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);

·       вольт-амперной характеристики покрытий в точке;

·       проведение литографии.