Микроскоп позволяет проводить исследования:
· топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;
· распределения латеральных сил (например, силы трения);
· намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);
· распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);
· вольт-амперной характеристики покрытий в точке;
· проведение литографии.
Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.