Микроскоп предназначен для проведения
металлографических наблюдений и исследования образцов в отраженном свете, в том
числе при контроле качества. Микроскоп GX51 позволяет проводить исследования в режимах
светлого и темного поля, ДИК, простом поляризованном свете.
